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互换性与测量技术基础
作者： 廖念钊主编
出版社：中国计量出版社,2002
简介： 《互换性与测量技术基础》包括：尺寸公差与圆柱结合的互换性、测量技术基础、形位公差及检测、表面粗糙度、量规与光滑工件尺寸的检测等内容。
中国计量出版社,2002
